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高速、高性能超声板卡
名称:高速、高性能超声卡
品牌/产地:美国
型号: ARB-IPR-1210,ARB-1410,AD-81G,PCI-E
应用:高速、高性能、超声功能模块,它将超声发射/接收功能、AD功能于一体。具有非常低的噪声和非常卓越的超声性能。
超声A/B/C/TOFD扫描软件UTwin
名称:超声A/B/C/TOFD扫描软件UTwin
品牌/产地:美国
型号: 
应用:UTwin软件是一款运行在Windows2000/XP/win7/mac os环境下的、用于控制超声与声-超声系统扫描、数据采集、分析与成像的交互式窗口软件。
各种便携式超声扫查器
名称:各种便携式超声扫查器
品牌/产地:美国
型号:R型,M型,Mini-B型,X-Y自动扫查器,TOFD扫查器
应用:便携式超声扫查器。
水浸超声C扫描各类辅助装置
名称:水浸超声C扫描各类辅助装置
品牌/产地:美国
型号:转盘,转管,手动转角器,G/S旋转轴
应用:水浸超声C扫描检测辅助装置。
多轴大跨度门架式系统
名称:多轴大跨度门架式系统
品牌/产地:美国
型号:定制
应用:应用于航空航天系统的多轴大跨度喷水式扫描系统
POCKET-UT掌上超声系统
产品简介:
名称:Pocket-UT掌上超声系统
品牌/产地:美国
型号:Pocket-UT
应用:材料测厚、焊缝检测、TOFD成像、管道内腐蚀检测、储罐内腐蚀检测、A-UT焊缝检测
V-duo 双探头超声波扫描显微镜系统
 名称:超声波扫描显微镜
 型号:V-duo
 产地:德国
 应用:晶圆面处分层缺陷;锡球、晶圆、或填胶中的开裂;晶圆的倾斜;各种可能之孔洞(晶圆接合面、锡球、填胶…等)

V-quattro四探头超声波扫描显微镜系统
名称:超声波扫描显微镜
型号:V-quattro
产地:德国
应用:晶圆面处分层缺陷;锡球、晶圆、或填胶中的开裂;晶圆的倾斜;各种可能之孔洞(晶圆接合面、锡球、填胶…等)

V-Octo 八探头大型超声波扫描显微镜系统
 名称:超声波扫描显微镜
 型号:V-octo
 产地:德国
 应用:晶圆面处分层缺陷;锡球、晶圆、或填胶中的开裂;晶圆的倾斜;各种可能之孔洞(晶圆接合面、锡球、填胶…等)

i-Ingot型全自动晶锭分析检测系统
 名称:超声波扫描显微镜
 型号:I-ingot
 产地:德国
 应用: 晶锭内部裂缝或杂质无损检测。

I-Wafer型全自动晶圆超声波缺陷检测系统
名称:超声波扫描显微镜
型号:I-Wafer
产地:德国
应用: 晶圆内部裂缝或杂质无损检测。

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