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 产品展示 当前位置:首页 > 超声波扫描显微镜  
 
V-400E 多用途超声波扫描显微镜
名称:超声波扫描显微镜
型号:V-400E 
产地:德国
应用:晶圆面处分层缺陷;锡球、晶圆、或填胶中的开裂;晶圆的倾斜;各种可能之孔洞(晶圆接合面、锡球、填胶…等)
V-1000E 超声波扫描显微镜
名称:超声波扫描显微镜
型号:V-1000E 
产地:德国
应用:晶圆面处分层缺陷;锡球、晶圆、或填胶中的开裂;晶圆的倾斜;各种可能之孔洞(晶圆接合面、锡球、填胶…等)

V-700E 超声波扫描显微镜
名称:超声波扫描显微镜
型号:V-700E 
产地:德国
应用:晶圆面处分层缺陷;锡球、晶圆、或填胶中的开裂;晶圆的倾斜;各种可能之孔洞(晶圆接合面、锡球、填胶…等)

V-duo 双探头超声波扫描显微镜系统
 名称:超声波扫描显微镜
 型号:V-duo
 产地:德国
 应用:晶圆面处分层缺陷;锡球、晶圆、或填胶中的开裂;晶圆的倾斜;各种可能之孔洞(晶圆接合面、锡球、填胶…等)

V-quattro四探头超声波扫描显微镜系统
名称:超声波扫描显微镜
型号:V-quattro
产地:德国
应用:晶圆面处分层缺陷;锡球、晶圆、或填胶中的开裂;晶圆的倾斜;各种可能之孔洞(晶圆接合面、锡球、填胶…等)

V-Octo 八探头大型超声波扫描显微镜系统
 名称:超声波扫描显微镜
 型号:V-octo
 产地:德国
 应用:晶圆面处分层缺陷;锡球、晶圆、或填胶中的开裂;晶圆的倾斜;各种可能之孔洞(晶圆接合面、锡球、填胶…等)

i-Ingot型全自动晶锭分析检测系统
 名称:超声波扫描显微镜
 型号:I-ingot
 产地:德国
 应用: 晶锭内部裂缝或杂质无损检测。

I-Wafer型全自动晶圆超声波缺陷检测系统
名称:超声波扫描显微镜
型号:I-Wafer
产地:德国
应用: 晶圆内部裂缝或杂质无损检测。

Nano型高分辨率表层缺陷超声波扫描显微镜系统
名称:超声波扫描显微镜
型号:Nano
产地:德国
应用: 高分辨率的声学显微成像系统,它能对实测器件的表层缺陷作超高分辨缺陷检测。

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